硅是出产太阳能电池片的重要原资料 ，但是晶体硅质地极度脆 ，很容易分裂 ，而太阳能电池片出产工艺复杂 ，在出产过程及各个工序的相互传送中 ，极易产生分裂或隐裂。随着硅锭切割工艺的优化升级 ，硅片将越来越薄 ，其对于内部探伤的需要也将更为火急。
太阳能出产工艺中 ，第一路制品就是硅锭。硅锭经线锯切割后形成太阳能硅片 ，而由于硅锭自身杂质和气泡蹬装响 ，造成产品质量差 ，并影响设备寿命。通过红表相机系统对太阳能硅锭进行质量检测 ，能够提前预防以上情况的产生 ，是极度有价值的机械视觉检测利用。在这个利用中系统价值体此刻：
1) 提升硅锭产品的质量。硅锭中含有杂质、气泡 ，会对最终的硅片产品质量产生影响。由于红表光对硅的穿透性比力好 ，波长为1050 nm的红表光能够穿透200 μm厚的硅锭 ，而波长为1300~1500 nm的红表光则
能够穿透肆意厚度的硅锭。因而我们能够利用红表光进行探伤 ，检测出硅锭中的孔洞和杂质 ，并通过各类工艺预处置 ，来达到提升硅锭产品质量的主张。
2) 削减对线锯的损耗 ，降低成本。线锯的价值通常都极度昂贵 ，在加工中 ，若硅锭中有孔洞的存在 ，会使线锯的应力突变 ，引起线锯的振动 ，加剧线锯的损耗 ，甚至会造成线锯的损毁；若硅锭中有杂质 ，也会使线锯的损耗加大。因而通过引入红表探伤 ，我们能够降低线锯的损耗 ，进而达到降低成本的主张。
3) 提升硅片的产品质量。在把硅锭切割为硅片的过程中 ，若硅锭中有杂质 ，则切割出来的硅片会产生线痕 ，这样的硅片是比力容易碎裂的。此表硅锭中的杂质容易附着在切割器械上 ，若用这样的切割器械进行加工 ，会造成更多硅片的线痕 ，严沉降低产品的质量 ，并且使出产成本大幅度地提高。
1) 提升硅锭产品的质量。硅锭中含有杂质、气泡 ，会对最终的硅片产品质量产生影响。由于红表光对硅的穿透性比力好 ，波长为1050 nm的红表光能够穿透200 μm厚的硅锭 ，而波长为1300~1500 nm的红表光则
能够穿透肆意厚度的硅锭。因而我们能够利用红表光进行探伤 ，检测出硅锭中的孔洞和杂质 ，并通过各类工艺预处置 ，来达到提升硅锭产品质量的主张。
2) 削减对线锯的损耗 ，降低成本。线锯的价值通常都极度昂贵 ，在加工中 ，若硅锭中有孔洞的存在 ，会使线锯的应力突变 ，引起线锯的振动 ，加剧线锯的损耗 ，甚至会造成线锯的损毁；若硅锭中有杂质 ，也会使线锯的损耗加大。因而通过引入红表探伤 ，我们能够降低线锯的损耗 ，进而达到降低成本的主张。
3) 提升硅片的产品质量。在把硅锭切割为硅片的过程中 ，若硅锭中有杂质 ，则切割出来的硅片会产生线痕 ，这样的硅片是比力容易碎裂的。此表硅锭中的杂质容易附着在切割器械上 ，若用这样的切割器械进行加工 ，会造成更多硅片的线痕 ，严沉降低产品的质量 ，并且使出产成本大幅度地提高。
